2008年6月18日，第七屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會議暨2008年上海顆粒學(xué)年會在湖南張家界召開。中國顆粒學(xué)會副理事長、歐美克公司董事長、首席科學(xué)家張福根博士出席了會議，并與濟南大學(xué)任中京教授一起主持了*場報告會。在會議晚宴上，代表會務(wù)組向與會代表致辭。
    在會上，中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會胡榮澤主任、上海市顆粒學(xué)會理事長蔡小舒教授先后致辭。來自全國各地的專家學(xué)者就顆粒測量技術(shù)的*新進展，納米顆粒暴露的危害，納米顆粒對特種材料的影響，新型粒度儀的研制，新型納米功能材料的合成以及粒度分析新方法的探討等諸多方面進行了深入的探討。
    為了使整個粒度測量行業(yè)向積極健康的方向發(fā)展，張福根博士做了題為“激光粒度儀的發(fā)展方向”的報告。報告中，他通過運用科學(xué)嚴謹?shù)墓鈱W(xué)理論，對激光粒度儀的理論測量范圍等做了嚴謹?shù)奶接�，并指出了今后激光粒度儀的發(fā)展方向。 

 

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